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    高頻LCR測試儀一般用于測試電感和電容
    點擊次數:208 發布時間:2022-01-22
      高頻LCR測試儀,L:電感(為了紀念物理學家Heinrich Lenz),C:電容(Capacitor),R:電阻(Resistance),LCR數字電橋就是能夠測量電感,電容,電阻,阻抗的儀器。隨著現代模擬和數字技術的發展,早已經淘汰了LRC電橋這種測量方法,但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數字電橋。一般用戶又稱這些為:LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、數字電橋、LCR Meter等等。
      高頻LCR測試儀原理:
      Vx與Vr均是矢量電壓表,Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當DUT(Device Under Test)接入電路時,放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0),Vr與Rr測得DUT電流Ix,由此可計算Zx。
      HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標c代表current, 下標p代表Potentail),Guard(接地)的配置可導致測試的誤差的差異。
      提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&amp;磁通量(關鍵是分析Ix,要配合使用Guard與Cable回路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接,雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結果),但是會減少信號線的互容。
      Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測試結果,電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0,流向Rr的電流不會被Zlg分流,Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。
      高頻LCR測試儀一般用于測試電感和電容。使用時先設置測試頻率;測試電壓或者電流水平;選擇測試參數,比如Z、Q、LS(串聯電感)、LP(并聯電感)、CS(串聯電容)、CP(并聯電容)、D等;儀器校準,校準主要進行開路、短路校準,儀器要進行負載校準;選擇測試夾具;夾具補償;再將DUT放在夾具上開始測試即可。
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