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    高頻阻抗分析儀的基本測量方法
    點擊次數:169 發布時間:2022-03-28
      高頻阻抗分析儀的技術要求與低頻阻抗測量儀在設計技術,使用電路及機被結構等方面明顯不同(包括測試電纜,自動平衡電橋和其他電路設計)。殘余阻抗,相位漂移,傳輸損耗和“集總常數測量電路”結構容易產生有害的影響,在高頻矢量測量中是無法確定的因素。而且這些影響隨測試頻率升高而增加,產生明顯的測量誤差,至使測量范圍變窄。這樣,在高頻范圍矢量測量中方便的方法是用“分布常量測量電路”。其優點是可以實現在寬的頻率范圍內電路性能不變,測量電路檢測的矢量信號能用簡單的數學式準確表示。
      高頻阻抗分析儀的基本測量操作是:
     ?。?)按下電源開關鍵后,儀器A顯示部分指示HP一IB地址,B顯示部分指示選配件通告符號(如hr),此時儀器在進行溫度控制電路的穩定,內部定時器延時工作10min,預熱工作期間,儀器連續顯示以上符號。進行10min預熱后,自動轉到測試狀態。
     ?。?)如果要求測試精度,最少預熱40min。之后使用參考終端阻抗在APC-7同軸接頭對儀器進行初始校準,來消除儀器的系統誤差對測量結果的影響。本身的校準件分別為:OQ的短路器,OS的開路器,50Ω的負載終端。首先注意上校準件前一定要保證儀器的測量端APC-7精密測頭的清潔和干燥,然后按照自動校準的程序依次接入相應的終端,在使用頻率范圍內進行校準。測量準確性實際上取決于使用校準終端的準確性,即由校準的準確性控制。所以一定不能忽視測量前的儀器校準這一過程。
     ?。?)根據被測件的形狀和測試頻率選擇合適的測試夾具,裝上夾具后,設置測試條件,必須同時輸入與測試夾具相應的電長度值(這是為了修正夾具對反射系數及相位的影響)。在實際測試中,夾具固有的殘余參量引起的測量誤差應予以考慮,確保測量的準確性,夾具參量必須進行修正,他的影響在高頻段明顯。
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